Burn-in es una prueba de estrés eléctrico que emplea voltaje y temperatura para acelerar la falla eléctrica de un dispositivo. El periodo de precalentamiento esencialmente simula la vida útil del dispositivo, ya que la excitación eléctrica aplicada durante el periodo de precalentamiento puede reflejar la peor tendencia a la que estará sujeto el dispositivo en el transcurso de su vida útil. Dependiendo del tiempo de precalentamiento utilizado, la información de confiabilidad obtenida puede referirse a la vida temprana del dispositivo o a su desgaste. El quemado se puede utilizar como monitor de confiabilidad o como pantalla de producción para eliminar posibles mortalidades infantiles del lote. El calentamiento se realiza generalmente a 125 grados C, aplicando excitación eléctrica a las muestras. El proceso de grabación se facilita mediante el uso de tableros de grabación (ver Fig. 1) donde se cargan las muestras. Estas placas de precintado luego se insertan en el horno de precintado (ver Fig. 2), que suministra los voltajes necesarios a las muestras mientras mantiene la temperatura del horno a 125 grados C. La polarización eléctrica aplicada puede ser estática o dinámica. dependiendo del mecanismo de falla que se está acelerando. Figura 1. Fotografía de tableros precintados desnudos y llenos de zócalosLa distribución del ciclo de vida operativo de una población de dispositivos se puede modelar como una curva de bañera, si las fallas se representan en el eje y frente a la vida operativa en el eje x. La curva de la bañera muestra que las tasas de falla más altas experimentadas por una población de dispositivos ocurren durante la etapa temprana del ciclo de vida, o vida temprana, y durante el período de desgaste del ciclo de vida. Entre las primeras etapas de vida y de desgaste hay un largo período en el que los dispositivos fallan con moderación. Figura 2. Dos ejemplos de hornos de precalentamientoEl seguimiento del monitor de fallos en las primeras etapas de la vida (ELF), como su nombre lo indica, se realiza para descartar posibles fallos en las primeras etapas de la vida. Se lleva a cabo por una duración de 168 horas o menos, y normalmente solo por 48 horas. Las fallas eléctricas después del quemado del monitor ELF se conocen como fallas tempranas en la vida o mortalidad infantil, lo que significa que estas unidades fallarán prematuramente si se usaran en su funcionamiento normal.La prueba de vida operativa a alta temperatura (HTOL) es lo opuesto al desgaste del monitor ELF, y prueba la confiabilidad de las muestras en su fase de desgaste. HTOL se realiza con una duración de 1000 horas, con puntos de lectura intermedios a 168 H y 500 H.Aunque la excitación eléctrica aplicada a las muestras a menudo se define en términos de voltajes, los mecanismos de falla acelerados por la corriente (como la electromigración) y los campos eléctricos (como la ruptura dieléctrica) también se aceleran comprensiblemente por el quemado.
Consigue una cotización
Red IPv6 compatible
