Requisitos de garantía de confiabilidad genérica para dispositivos optoelectrónicos utilizados en equipos de telecomunicaciones

Requisitos de garantía de confiabilidad genérica para dispositivos optoelectrónicos utilizados en equipos de telecomunicaciones

Número de documento GR-468
Número de emisión 02
Fecha de asunto Sep 2004
Reemplazo TR-NWT-000468 Número01

Información de pedido

ABSTRACTO: Los dispositivos optoelectrónicos son la columna vertebral de la industria de la fibra óptica. Estos dispositivos incluyen láseres, diodos emisores de luz, detectores de fotos y moduladores, y son componentes clave utilizados en equipos de telecomunicaciones como:

• Terminal de fibra óptica asincrónica y sincrónica y multiplexores adicionales
• Sistemas de conexión cruzada digital
• Amplificadores ópticos
• Sistemas de conexión cruzada universal o integrada
• Sistemas de fibra en el bucle.
Este documento NEB (Sistema de construcción de equipos de red) presenta la vista Telcordia de las prácticas propuestas de garantía de confiabilidad genérica para la mayoría de los dispositivos optoelectrónicos utilizados en equipos de telecomunicaciones.

GR-468 es el

solo

Fuente de referencia completar la industria sobre este tema, ahorrando a su empresa

Miles de dólares

en costos de investigación y desarrollo. Este documento ayuda a garantizar la operación confiable de los dispositivos optoelectrónicos y ayuda a minimizar el costo del ciclo de vida de su empresa. GR-468 se puede dibujar para cubrir otros dispositivos optoelectrónicos activos utilizados en el equipo de telecomunicaciones.

Los cambios importantes en el número 2 incluyen:
• Se han consolidado criterios relacionados con las pruebas de calificación, la confiabilidad o las pruebas de envejecimiento aceleradas, y los controles de lote a lote para resaltar los puntos en común y las diferencias entre las pruebas y los procedimientos que se aplican a diversos dispositivos y niveles de dispositivos.
• Un alcance ampliado del documento y definiciones revisadas de los niveles de dispositivo
• Nuevo material agregado en láseres sintonizables y receptores optoelectrónicos
• Eliminación de objetivos que indicaron parámetros de rendimiento específicos y varias tablas que enumeraron los parámetros consolidados en una sola tabla.
• Un conjunto definido de choque operativo y condiciones de vibración.
Al usar GR-468, es posible que deba consultar a

GR-63

,

GR-78

,

GR-326

,

GR-357

,

GR-418

,

GR-487

, Gr-874,

GR-909

,

GR-1221

, GR-1252,

GR-1312

,

GR-2882

,

SR-332

,

TR-NWT-000870

,

TR-NWT-000930

,

GR-3160

y/o varias publicaciones IEC, MIL-STD e ITA/EIA FOTP-Series.

GR-468-Core reemplazó TR-NWT-000468 y TA-NWT-000983. (A veces referenciado como "Telcordia Technologies 983" en otros sitios web externos).

Problema 2 de GR-468,

Requisitos de garantía de confiabilidad genérica para dispositivos optoelectrónicos utilizados en equipos de telecomunicaciones

, reemplaza el problema 1.

Los componentes de este producto son:

7.6 Híbridos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7–5 Apéndice A: Tablas del plan de muestreo Apéndice B: Referencias Apéndice C: Símbolos, unidades, abreviaturas y acrónimos Índice de objeto-objeto GR-468-Core Número 2 de septiembre de 2004 Garantía de confiabilidad para la lista de dispositivos optOelectrónicos de figuras Lista de figuras Figura 1 Figura 1 -1 Figura 1-2 Figura 1-3 Figura 3-1 Figura 3-2 Figura 3-3 Figura 3-4 Figura 3-5 Figura 3-6 Figura 3-7 Figura 3-8 Figura 3-9 elementos de un programa integral de garantía de confiabilidad. . . 1–3 Ejemplos de diseños de módulos de dispositivos optoelectrónicos. . . . . . . . 1-10 esquema de un diseño de módulo láser común. . . . . . . . . . . 1-11 Ejemplo para dos mecanismos de falla con diferentes energías de activación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–6 Ejemplo de un espectro óptico láser MLM. . . . . . . . . . . . 3–9 Ejemplo de curvas L-I y DL/DI con una torcedura. . . . . . . . . . . . 3–19 Ejemplo de máscara para la prueba de patrón de ojo de señal de tasa de bits altas. . . . . 3–22 Definiciones del tiempo de aumento y caída. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–23 Medición del retraso de activación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–25 medición del patrón de campo lejano láser. . . . . . . . . . . . . . . . . 3–27 Ejemplo de resultados de pruebas de homogeneidad espacial. . . . . . . . . . . . 3–33 Ejemplo de resultados de prueba de linealidad de fotodetector. . . . . . . . . . 3–34 XI GR-468 Core Aseguramiento de confiabilidad para dispositivos optoelectrónicos Lista de tablas Problema 2 de septiembre de 2004 Lista de tablas Tabla 1-1 Tabla 2-1 Tabla 3-1 Tabla 3-2 Tabla 4-1 Tabla 4-2 Tabla 4 -3 Tabla 4-4 Tabla 4-5 Tabla 4-6 Tabla 5-1 Tabla 7-1 Tabla A-1 Tabla A-2 Tabla A-3 Tabla A-4 Definición de niveles de calidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–14 Uso provisional de dispositivos en calificación. . . . . . . . . . . . . 2–7 energía