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Equipo de prueba de chips semiconductores de Lab Companion
HASTA
Temperatura y humedad altamente aceleradas Prueba de estrés
uHAST
HAST independiente
HTSL/Hornear
Vida de almacenamiento de alta temperatura
LTSL
Vida de almacenamiento a baja temperatura
TC
Ciclos de temperatura
TS
Choque térmico
THB/85/85
Temperatura Humedad Blas
TH(THS/THC)
Temperatura Humedad
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