Prueba de confiabilidad de diodos emisores de luz para comunicaciónDeterminación de falla del diodo emisor de luz de comunicación:Proporciona una corriente fija para comparar la potencia de salida óptica y determina la falla si el error es superior al 10 %.Prueba de estabilidad mecánica:Prueba de impacto: 5tims/eje, 1500G, 0,5msPrueba de vibración: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4min/ciclo, 4ciclo/ejePrueba de choque térmico líquido: 100 ℃ (15 s) ← → 0 ℃ (5 s)/5 ciclosResistencia al calor de soldadura: 260 ℃/10 segundos/1 vezAdhesión de soldadura: 250 ℃/5 segundosPrueba de durabilidad:Prueba de envejecimiento acelerado: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/5000 horas, 10000 horasAlmacenamiento a alta temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horasPrueba de almacenamiento a baja temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horasPrueba de ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ←85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 500 ciclosPrueba de resistencia a la humedad: 40 ℃/95 %/56 días, 85 ℃/85 %/2000 horas, tiempo de selladoPrueba de detección del elemento del diodo de comunicación:Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas Determinación de falla de detección: compare la potencia de salida óptica con la corriente fija y determine la falla si el error es mayor al 10 %Prueba de detección del módulo de diodo de comunicación:Paso 1: Detección del ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ← → 85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 20 ciclos, sin fuente de alimentaciónPaso 2: Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas
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