Prueba de confiabilidad de diodos emisores de luz para comunicación

Prueba de confiabilidad de diodos emisores de luz para comunicación

Determinación de falla del diodo emisor de luz de comunicación:

Proporciona una corriente fija para comparar la potencia de salida óptica y determina la falla si el error es superior al 10 %.

Prueba de estabilidad mecánica:

Prueba de impacto: 5tims/eje, 1500G, 0,5ms

Prueba de vibración: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4min/ciclo, 4ciclo/eje

Prueba de choque térmico líquido: 100 ℃ (15 s) ← → 0 ℃ (5 s)/5 ciclos

Resistencia al calor de soldadura: 260 ℃/10 segundos/1 vez

Adhesión de soldadura: 250 ℃/5 segundos

Prueba de durabilidad:

Prueba de envejecimiento acelerado: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/5000 horas, 10000 horas

Almacenamiento a alta temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horas

Prueba de almacenamiento a baja temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horas

Prueba de ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ←85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 500 ciclos

Prueba de resistencia a la humedad: 40 ℃/95 %/56 días, 85 ℃/85 %/2000 horas, tiempo de sellado

Prueba de detección del elemento del diodo de comunicación:

Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas Determinación de falla de detección: compare la potencia de salida óptica con la corriente fija y determine la falla si el error es mayor al 10 %

Prueba de detección del módulo de diodo de comunicación:

Paso 1: Detección del ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ← → 85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 20 ciclos, sin fuente de alimentación

Paso 2: Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas