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¿Cuáles son las pruebas de confiabilidad de diodos emisores de luz para comunicación?
Determinación de fallas de luz que emite dos tubos para comunicación:
Proporcione una corriente fija para comparar la potencia de salida óptica; si el error es superior al 10%, se determina la falla.
Prueba de estabilidad mecánica:
Prueba de choque: 5tims/eje, 1500G, 0.5ms Prueba de vibración: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4min/ciclo, 4ciclos/eje Prueba de choque térmico líquido: 100℃(15seg)←→0℃(5seg)/5ciclo
Prueba de durabilidad:
Prueba de envejecimiento acelerado: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/5000 horas, 10000 horas
Prueba de almacenamiento a alta temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horas
Prueba de almacenamiento a baja temperatura: temperatura máxima de almacenamiento nominal/2000 horas
Prueba de ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ←85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 500 ciclos
Prueba de resistencia a la humedad: 40 ℃/95 %/56 días, 85 ℃/85 %/2000 horas, tiempo de sellado
Prueba de detección del elemento del diodo de comunicación:
Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas Determinación de falla de detección: compare la potencia de salida óptica con la corriente fija y determine la falla si el error es mayor al 10 %
Prueba de detección del módulo de diodo de comunicación:
Paso 1: Detección del ciclo de temperatura: -40 ℃ (30 min) ← → 85 ℃ (30 min), RAMPA: 10/min, 20 ciclos, sin fuente de alimentación
Segundo: Prueba de detección de temperatura: 85 ℃/potencia (potencia nominal máxima)/96 horas