Laptop Test Conditions
Notebook computer from the early 12-inch screen evolution to the current LED backlit screen, its computing efficiency and 3D processing, will not be lost to the general desktop computer, and the weight is becoming less and less burden, the relative reliability test requirements for the entire notebook computer is becoming more and more stringent, from the early packaging to the current boot down, the traditional high temperature and high humidity to the current condensation test. From the temperature and humidity range of the general environment to the desert test as a common condition, these are the parts that need to be considered in the production of notebook computer related components and design, the test conditions of the relevant environmental tests collected so far are organized and shared with you.
Keyboard tapping test:
Test one:
GB:1 million times
Key pressure :0.3~0.8(N)
Button stroke :0.3~1.5(mm)
Test 2: Key pressure: 75g(±10g) Test 10 keys for 14 days, 240 times per minute, a total of about 4.83 million times, once every 1 million times
Japanese manufacturers :2 to 5 million times
Taiwan manufacturer 1: more than 8 million times
Taiwan Manufacturer 2:10 million times
Power switch and connector plug pull test:
This test model simulates the lateral forces that each connector can withstand under abnormal usage. General laptop test items: USB, 1394, PS2, RJ45, Modem, VGA... Equal application force 5kg(50 times), up and down left and right pull and plug.
Power switch and connector plug test:
4000 times (Power supply)
Screen cover opening and closing test:
Taiwanese manufacturers: open and close 20,000 times
Japanese manufacturer 1: opening and closing test 85,000 times
Japanese manufacturer 2: opening and closing 30,000 times
System standby and recovery switch test:
General note type: interval 10sec, 1000cycles
Japanese manufacturer: System standby and recovery switch test 2000 times
Common causes of laptop failure:
☆ Foreign objects fall on the notebook
☆ Falls off the table while in use
☆ Tuck the notebook in a handbag or trolley case
☆ Extremely high temperature or low temperature ☆ Normal use (overuse)
☆ Wrong use in tourist destinations
☆PCMCIA inserted incorrectly
☆ Place foreign objects on the keyboard
Shutdown drop test:
General notebook type :76 cm
GB package drop: 100cm
Us Army and Japanese notebook computers: The height of the computer is 90 cm from all sides, sides, corners, a total of 26 sides
Platform :74 cm (packing required)
Land: 90cm (packing required)
TOSHIBA&BENQ 100 cm
Boot drop test:
Japanese :10 cm boot fall
Taiwan :74 cm boot fall
Laptop main board temperature shock:
Slope 20℃/min
Number of cycles 50cycles(no operation during impact)
The U.S. military's technical standards and test conditions for laptop procurement are as follows:
Impact test: Drop the computer 26 times from all sides, sides and corners at a height of 90 cm
Earthquake resistance test :20Hz~1000Hz, 1000Hz~2000Hz frequency once an hour X, Y and Z axis continuous vibration
Temperature test :0℃~60℃ 72 hours of aging oven
Waterproof test: Spray water on the computer for 10 minutes in all directions, and the water spray rate is 1mm per minute
Dust test: Spray the concentration of 60,000 mg/ per cubic meter of dust for 2 seconds (interval of 10 minutes, 10 consecutive times, time 1 hour)
Meets MIL-STD-810 military specifications
Waterproof test:
Us Army notebook :protection class:IP54(dust & rain) Sprayed the computer with water in all directions for 10 minutes at a rate of 1mm per minute.
Dust proof test:
Us Army notebook: Spray a concentration of 60,000 mg/ m3 of dust for 2 seconds (10 minute intervals, 10 consecutive times, time 1 hour)
Temperature Cyclic Stress Screening (2)
Introduction of stress parameters for temperature cyclic stress screening:
The stress parameters of temperature cyclic stress screening mainly include the following: high and low temperature extremum range, dwell time, temperature variability, cycle number
High and low temperature extremal range: the larger the range of high and low temperature extremal, the fewer cycles required, the lower the cost, but can not exceed the product can withstand the limit, do not cause new fault principle, the difference between the upper and lower limits of temperature change is not less than 88°C, the typical range of change is -54°C to 55°C.
Dwell time: In addition, the dwell time can not be too short, otherwise it is too late to make the product under test produce thermal expansion and contraction stress changes, as for the dwell time, the dwell time of different products is different, you can refer to the relevant specification requirements.
Number of cycles: As for the number of cycles of temperature cyclic stress screening, it is also determined by considering product characteristics, complexity, upper and lower limits of temperature and screening rate, and the screening number should not be exceeded, otherwise it will cause unnecessary harm to the product and cannot improve the screening rate. The number of temperature cycles ranges from 1 to 10 cycles [ordinary screening, primary screening] to 20 to 60 cycles [precision screening, secondary screening], for the removal of the most likely workmanship defects, about 6 to 10 cycles can be effectively removed, in addition to the effectiveness of the temperature cycle, Mainly depends on the temperature variation of the product surface, rather than the temperature variation inside the test box.
There are seven main influencing parameters of temperature cycle:
(1) Temperature Range
(2) Number of Cycles
(3) Temperature Rate of Chang
(4) Dwell Time
(5) Airflow Velocities
(6) Uniformity of Stress
(7) Function test or not (Product Operating Condition)
Stress screening fatigue classification:
The general classification of Fatigue research can be divided into High-cycle Fatigue, Low-cycle Fatigue and Fatigue Crack Growth. In the aspect of low cycle Fatigue, it can be subdivided into Thermal Fatigue and Isothermal Fatigue.
Stress screening acronyms:
ESS: Environmental stress screening
FBT: Function board tester
ICA: Circuit analyzer
ICT: Circuit tester
LBS: load board short-circuit tester
MTBF: mean time between failures
Time of temperature cycles:
a.MIL-STD-2164(GJB 1302-90) : In the defect removal test, the number of temperature cycles is 10, 12 times, and in the trouble-free detection it is 10 ~ 20 times or 12 ~ 24 times. In order to remove the most likely workmanship defects, about 6 ~ 10 cycles are needed to effectively remove them. 1 ~ 10 cycles [general screening, primary screening], 20 ~ 60 cycles [precision screening, secondary screening].
B.od-hdbk-344 (GJB/DZ34) Initial screening equipment and unit level uses 10 to 20 loops (usually ≧10), component level uses 20 to 40 loops (usually ≧25).
Temperature variability:
a.MIL-STD-2164(GJB1032) clearly states: [Temperature change rate of temperature cycle 5℃/min]
B.od-hdbk-344 (GJB/DZ34) Component level 15 ° C /min, system 5 ° C /min
c. Temperature cyclic stress screening is generally not specified temperature variability, and its commonly used degree variation rate is usually 5°C/min
EC-35EXT, Superior constant temperature bath (306L)
Project
Type
Series
ＥＸＴ
Function
Temperature occurs in a way
Dry wet bulb method
Temperature range
-70 ～ +150 ℃
Range of temperature
Below the + 100℃
±0.3 ℃
Above the + 101℃
±0.5 ℃
Temperature distribution
Below the + 100℃
±0. 7 ℃
Above the + 101℃
±1.0 ℃
The temperature drops the time
＋125 ～－55 ℃
Within 18 points (10℃ / point average temperature change)
Temperature rise time
－55 ～＋125 ℃
Within 18 minutes (10℃ / minute)
The internal volume of the uterus was tested
306L
Test room inch method (width, depth and height)
630mm × 540mm × 900mm
Product inch method (width, depth and height)
1100mm × 1960mm × 1900mm
Make the material
External outfit
Test room control panel
machine room
Cold interductile steel plate is dark gray
Inside
Stainless steel plate (SUS304,2B polished)
Broken heat material
Test room
Hard synthetic resin
door
Hard synthetic resin foam cotton, glass cotton
Project
Type
Series
ＥＸＴ
Cooling dehumidifying device
Cooling-down method
Mechanical section shrinkage and freezing mode and binary freezing mode
Cooling medium；coolant
Single segment side
R 404A
Binary high temperature / low temperature side
R 404A / R23
Cooling and dehumidifier
Multi-channel mixed heat sink type
The condenser
(water-cooled)
Calorifier
Form
Nickel-chromium heat-resistant alloy heater
Blower
Form
Stir fan
Controller
The temperature is set
-72.0 ～ + 152.0 ℃
Time setting Fanny
0 ~ 999 Time 59 minutes (formula) 0 ~ 20000 Time 59 minutes (formula formula)
Set decomposition energy
Temperature was 0.1℃ for 1 min
Indicate accuracy
Temperature ± 0.8℃ (typ.), time ± 100 PPM
Vacation type
Value or program
Stage number
20-stage / 1 program
The number of procedures
The maximum number of incoming force (RAM) programs is 32 programs
The maximum number of internal ROM programs is 13 programs式
Round-trip number
Max. 98, or unlimited
Number of round-trip repeats
Maximum 3 times
Displace the end
Pt 100Ω ( at 0 ℃ )，grade ( JIS C 1604-1997 )
Control action
When splitting the PID action
Endovirus function
Early delivery function, standby function, setting value maintenance function, power outage protection function,
Power action selection function, maintenance function, transportation round-trip function,
Time delivery function, time signal output function, overrising and overcooling prevention function,
Abnormal representation function, external alarm output function, setting paradigm representation function,
Transport type selection function, the calculation time represents the function, the slot lamp lamp function
Project
Type
Series
ＥＸＨ
Control panel
Equipment machine
LCD operating panel (type contact panel),
Represents lamp (power, transport, abnormal), test power supply terminal, external alarm terminal,
Time signal output terminal, power cord connector
Protective device
Refrigerating cycle
Overload protection device, high blocking device
Calorifier
Temperature over-rise protection device, temperature fuse
Blower
Overload protection device
Control panel
Leakage breaker for power supply, fuse (heater,),
Fuse (for operating loop), temperature rise protection device (for testing),
Temperature rise overcooling prevention device (test material, in microcomputer)
Pay belongs to the product
Test material shed shed by * 8
Stainless steel Shshed (2), shed (4)
Fuse
Operating loop Protection Fuses (2)
Operating specification
( 1 )
Else
Bolus (Cable hole: 1)
Equipment products
Adventitia
Heat-resistant glass: 270mm: 190mm
1
Cable hole
Inner diameter of 50mm
1
The trough inside the lamp
AC100V 15W White hot ball
1
Wheel
6
Horizontal adjustment
6
Electrovirus characteristics
Power supply is * 5.1
AC Three-phase 380V 50Hz
Maximum load current
60A
Capacity of the leakage breaker for the power supply
80A
Sensory current 30mA
Power distribution thickness
60mm２
Rubber insulation hose
Coarseness of grounding wire
14mm２
Cooling water at * 5.3
Water yield
5000 L /h (When the cooling water inlet temperature is 32℃)
water pressure
0.1 ～ 0.5MPa
Side pipe diameter of the device
PT1 1/4
Tubing
Drain-pipe ＊ 5.4
PT1/2
Product weight
700kg
AEC-Q100- Failure Mechanism Based on Integrated Circuit Stress Test Certification
With the progress of automotive electronic technology, there are many complicated data management control systems in today's cars, and through many independent circuits, to transmit the required signals between each module, the system inside the car is like the "master-slave architecture" of the computer network, in the main control unit and each peripheral module, automotive electronic parts are divided into three categories. Including IC, discrete semiconductor, passive components three categories, in order to ensure that these automotive electronic components meet the highest standards of automotive anquan, the American Automotive Electronics Association (AEC, The Automotive Electronics Council is a set of standards [AEC-Q100] designed for active parts [microcontrollers and integrated circuits...] and [[AEC-Q200] designed for passive components, which specifies the product quality and reliability that must be achieved for passive parts. Aec-q100 is the vehicle reliability test standard formulated by the AEC organization, which is an important entry for 3C and IC manufacturers into the international auto factory module, and also an important technology to improve the reliability quality of Taiwan IC. In addition, the international auto factory has passed the anquan standard (ISO-26262). AEC-Q100 is the basic requirement to pass this standard.
List of automotive electronic parts required to pass AECQ-100:
Automotive disposable memory, Power Supply step-down regulator, Automotive photocoupler, three-axis accelerometer sensor, video jiema device, rectifier, ambient light sensor, non-volatile ferroelectric memory, power management IC, embedded flash memory, DC/DC regulator, Vehicle gauge network communication device, LCD driver IC, Single power Supply differential Amplifier, Capacitive proximity switch Off, high brightness LED driver, asynchronous switcher, 600V IC, GPS IC, ADAS Advanced Driver Assistance System Chip, GNSS Receiver, GNSS front-end amplifier... Let's wait.
AEC-Q100 Categories and Tests:
Description: AEC-Q100 specification 7 major categories a total of 41 tests
Group A- ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS consists of 6 tests: PC, THB, HAST, AC, UHST, TH, TC, PTC, HTSL
Group B- ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS consists of three tests: HTOL, ELFR, and EDR
PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS consists of 6 tests: WBS, WBP, SD, PD, SBS, LI
Group D- DIE FABRICATION RELIABILITY Test consists of 5 TESTS: EM, TDDB, HCI, NBTI, SM
The group ELECTRICAL VERIFICATION TESTS consist of 11 tests, including TEST, FG, HBM/MM, CDM, LU, ED, CHAR, GL, EMC, SC and SER
Cluster F-Defect SCREENING TESTS: 11 tests, including: PAT, SBA
The CAVITY PACKAGE INTEGRITY TESTS consist of 8 tests, including: MS, VFV, CA, GFL, DROP, LT, DS, IWV
Short description of test items:
AC: Pressure cooker
CA: constant acceleration
CDM: electrostatic discharge charged device mode
CHAR: indicates the feature description
DROP: The package falls
DS: chip shear test
ED: Electrical distribution
EDR: non-failure-prone storage durability, data retention, working life
ELFR: Early life failure rate
EM: electromigration
EMC: Electromagnetic compatibility
FG: fault level
GFL: Coarse/fine air leakage test
GL: Gate leakage caused by thermoelectric effect
HBM: indicates the human mode of electrostatic discharge
HTSL: High temperature storage life
HTOL: High temperature working life
HCL: hot carrier injection effect
IWV: Internal hygroscopic test
LI: Pin integrity
LT: Cover plate torque test
LU: Latching effect
MM: indicates the mechanical mode of electrostatic discharge
MS: Mechanical shock
NBTI: rich bias temperature instability
PAT: Process average test
PC: Preprocessing
PD: physical size
PTC: power temperature cycle
SBA: Statistical yield analysis
SBS: tin ball shearing
SC: Short circuit feature
SD: weldability
SER: Soft error rate
SM: Stress migration
TC: temperature cycle
TDDB: Time through dielectric breakdown
TEST: Function parameters before and after stress test
TH: damp and heat without bias
THB, HAST: Temperature, humidity or high accelerated stress tests with applied bias
UHST: High acceleration stress test without bias
VFV: random vibration
WBS: welding wire cutting
WBP: welding wire tension
Temperature and humidity test conditions finishing:
THB(temperature and humidity with applied bias, according to JESD22 A101) : 85℃/85%R.H./1000h/bias
HAST(High Accelerated stress test according to JESD22 A110) : 130℃/85%R.H./96h/bias, 110℃/85%R.H./264h/bias
AC pressure cooker, according to JEDS22-A102:121 ℃/100%R.H./96h
UHST High acceleration stress test without bias, according to JEDS22-A118, equipment: HAST-S) : 110℃/85%R.H./264h
TH no bias damp heat, according to JEDS22-A101, equipment: THS) : 85℃/85%R.H./1000h
TC(temperature cycle, according to JEDS22-A104, equipment: TSK, TC) :
Level 0: -50℃←→150℃/2000cycles
Level 1: -50℃←→150℃/1000cycles
Level 2: -50℃←→150℃/500cycles
Level 3: -50℃←→125℃/500cycles
Level 4: -10℃←→105℃/500cycles
PTC(power temperature cycle, according to JEDS22-A105, equipment: TSK) :
Level 0: -40℃←→150℃/1000cycles
Level 1: -65℃←→125℃/1000cycles
Level 2 to 4: -65℃←→105℃/500cycles
HTSL(High temperature storage life, JEDS22-A103, device: OVEN) :
Plastic package parts: Grade 0:150 ℃/2000h
Grade 1:150 ℃/1000h
Grade 2 to 4:125 ℃/1000h or 150℃/5000h
Ceramic package parts: 200℃/72h
HTOL(High temperature working life, JEDS22-A108, equipment: OVEN) :
Grade 0:150 ℃/1000h
Class 1:150℃/408h or 125℃/1000h
Grade 2:125℃/408h or 105℃/1000h
Grade 3:105℃/408h or 85℃/1000h
Class 4:90℃/408h or 70℃/1000h
ELFR(Early Life failure Rate, AEC-Q100-008) : Devices that pass this stress test can be used for other stress tests, general data can be used, and tests before and after ELFR are performed under mild and high temperature conditions.
Equipo de prueba ambiental de confiabilidad combinado con aplicaciones de detección y control de temperatura de múltiples pistasEl equipo de prueba ambiental incluye una cámara de prueba de temperatura y humedad constante, una cámara de prueba de choque frío y caliente, una cámara de prueba de ciclo de temperatura, un horno sin viento... Todos estos equipos de prueba se encuentran en un entorno simulado de temperatura y humedad que impactan en el producto, para averiguarlo. El proceso de diseño, producción, almacenamiento, transporte y uso puede aparecer defectos del producto, anteriormente solo se simulaba la temperatura del aire del área de prueba, pero en los nuevos estándares internacionales y las nuevas condiciones de prueba de la fábrica internacional, el comienzo de los requisitos basados en la temperatura del aire. no lo es. Es la temperatura de la superficie del producto de prueba. Además, la temperatura de la superficie también debe medirse y registrarse sincrónicamente durante el proceso de prueba para el análisis posterior a la prueba. El equipo de prueba ambiental relevante debe combinarse con el control de la temperatura de la superficie y la aplicación de la medición de la temperatura de la superficie se resume a continuación. Aplicación de detección de temperatura de la mesa de prueba de la cámara de prueba de temperatura y humedad constantes: Descripción: Cámara de prueba de temperatura y humedad constantes en el proceso de prueba, combinada con detección de temperatura multipista, alta temperatura y humedad, condensación (condensación), temperatura y humedad combinadas, ciclo de temperatura lento... Durante el proceso de prueba, el sensor fijado a la superficie del producto de prueba, que se puede utilizar para medir la temperatura de la superficie o la temperatura interna del producto de prueba. A través de este módulo de detección de temperatura de múltiples pistas, las condiciones establecidas, la temperatura y humedad reales, la temperatura de la superficie del producto de prueba y la misma medición y registro se pueden integrar en un archivo de curva sincrónico para su posterior almacenamiento y análisis.Aplicaciones de detección y control de temperatura de la superficie de la cámara de prueba de choque térmico: [tiempo de permanencia basado en el control de la temperatura de la superficie], [registro de medición de la temperatura de la superficie del proceso de choque de temperatura] Descripción: El sensor de temperatura de 8 rieles se fija a la superficie del producto de prueba y se aplica al proceso de choque de temperatura. El tiempo de permanencia se puede contar hacia atrás según la llegada de la temperatura superficial. Durante el proceso de impacto, las condiciones de fraguado, la temperatura de prueba, la temperatura de la superficie del producto de prueba y la misma medición y registro se pueden integrar en una curva sincrónica.Aplicación de detección y control de temperatura de la superficie de la cámara de prueba del ciclo de temperatura: [La variabilidad de la temperatura del ciclo de temperatura y el tiempo de permanencia se controlan de acuerdo con la temperatura de la superficie del producto de prueba] Descripción: La prueba del ciclo de temperatura es diferente de la prueba de choque de temperatura. La prueba de choque de temperatura utiliza la energía máxima del sistema para realizar cambios de temperatura entre temperaturas altas y bajas, y su tasa de cambio de temperatura es tan alta como 30 ~ 40 ℃ /min. La prueba del ciclo de temperatura requiere un proceso de cambios de temperatura alta y baja, y su variabilidad de temperatura se puede configurar y controlar. Sin embargo, las nuevas especificaciones y las condiciones de prueba de los fabricantes internacionales han comenzado a exigir que la variabilidad de la temperatura se refiera a la temperatura de la superficie del producto de prueba, no a la temperatura del aire, y el control de variabilidad de la temperatura de la especificación del ciclo de temperatura actual. Según las especificaciones de la superficie del producto de prueba son [JEDEC-22A-104F, IEC60749-25, IPC9701, ISO16750, AEC-Q100, LV124, GMW3172]... Además, el tiempo de residencia de temperaturas altas y bajas también puede basarse en la superficie de prueba, en lugar de la temperatura del aire.Aplicaciones de detección y control de temperatura de la superficie de la cámara de prueba de detección de estrés cíclico de temperatura: Instrucciones: Máquina de prueba de detección de tensión por ciclo de temperatura, combinada con medición de temperatura de múltiples rieles, en la variabilidad de temperatura de la detección de tensión, puede optar por usar [temperatura del aire] o [temperatura de la superficie del producto de prueba] para controlar la variabilidad de la temperatura, además, En el proceso residente de alta y baja temperatura, el tiempo recíproco también se puede controlar según la superficie del producto de prueba. De acuerdo con las especificaciones pertinentes (GJB1032, IEST) y los requisitos de las organizaciones internacionales, de acuerdo con la definición de GJB1032 en el punto de medición de temperatura y tiempo de residencia de detección de tensión, 1. El número de termopares fijados en el producto no será inferior a 3, y el punto de medición de temperatura del sistema de enfriamiento no deberá ser inferior a 6, 2. Asegúrese de que la temperatura de 2/3 de los termopares del producto esté establecida en ±10 ℃, además, de acuerdo con los requisitos de IEST (Internacional Association for Environmental Science and Technology), el tiempo de residencia debe alcanzar el tiempo de estabilización de temperatura más 5 minutos o el tiempo de prueba de rendimiento. Aplicación de detección de temperatura de superficie sin horno de aire (cámara de prueba de convección natural): Descripción: Mediante la combinación de un horno sin viento (cámara de prueba de convección natural) y un módulo de detección de temperatura multipista, se genera la temperatura ambiente sin ventilador (convección natural) y se integra la prueba de detección de temperatura relevante. Esta solución se puede aplicar a la prueba de temperatura ambiente real de productos electrónicos (como: servidor en la nube, 5G, interior de vehículos eléctricos, ambiente interior sin aire acondicionado, inversor solar, televisor LCD grande, compartidor de Internet en el hogar, oficina 3C, computadora portátil, computadora de escritorio). , consola de juegos....... Etc.).
Inversor: prueba de confiabilidadPrueba de confiabilidad del inversor, también conocida como convertidor de voltaje, su función es convertir bajo voltaje de CC en alto voltaje de CA, algunos equipos electrónicos deben funcionar con energía de CA, pero nosotros proporcionamos energía de CC, en este momento debe usar el inversor, directo corriente en corriente alterna para accionar las piezas electrónicas. Prueba de confiabilidad del inversor, también conocida como convertidor de voltaje, su función es convertir bajo voltaje de CC en alto voltaje de CA, algunos equipos electrónicos deben funcionar con energía de CA, pero nosotros proporcionamos energía de CC, en este momento debe usar el inversor, directo corriente en corriente alterna para accionar las piezas electrónicas.Condiciones de prueba relevantes:ArtículotemperaturatiempootroPrueba inicial a temperatura normal.25℃TIEMPO≥2 horas-Prueba inicial de baja temperatura0 ℃ o -5 °CTIEMPO≥2 horas-Prueba inicial de alta temperatura60℃TIEMPO≥2 horas-Prueba de alta temperatura y alta humedad.40 ℃/95% HR240 horas-Prueba de almacenamiento a alta temperatura70 ℃TIEMPO≥96 horas o 240 horas-Prueba de almacenamiento a baja temperatura -1-20°CTIEMPO≥96 horas-Prueba de almacenamiento a baja temperatura -2-40℃240 horas-Prueba de almacenamiento a alta temperatura y alta humedad.40 ℃/90% HRTIEMPO≥96 horas-Prueba de ciclo de temperatura-20 ℃ ~ 70 ℃5 cicloTemperatura ambiente ↓-20 ℃(4 horas)↓ Temperatura ambiente (90%RH.4 horas)↓70°C(4 horas)↓ Temperatura ambiente (4 horas)Prueba de carga de alta temperatura55℃carga equivalente, 1.000 horas-prueba de vida40°CMTBF≥40000 horas-prueba de encendido/apagado (ciclo de encendido)--1 min: encendido, 1 min: apagado, 5000 ciclos usando carga equivalentePrueba de vibración--Aceleración 3q, frecuencia 10~55HZ, X, Y, Z tres direcciones 10 minutos cada una, un total de 30 minutosPrueba de impacto--Aceleración de 80 g, 10 ms cada vez, tres veces en las direcciones X, Y, ZNota 1: El módulo probado debe colocarse a temperatura normal (15~35° C, 45~65%RH) durante una hora antes de realizar la prueba.Equipo aplicable:1. Cámara de prueba de alta y baja temperatura2. Cámara de prueba de alta temperatura y alta humedad3. Cámara de prueba de ciclo de temperatura rápida
Estándar de prueba IEC 61646 para módulos fotoeléctricos solares de película delgadaA través de la medición de diagnóstico, medición eléctrica, prueba de irradiación, prueba ambiental, prueba mecánica, cinco tipos de modo de prueba e inspección, confirma la confirmación del diseño y los requisitos de aprobación del formulario de energía solar de película delgada, y confirma que el módulo puede operar en el entorno climático general. requerido por la especificación durante mucho tiempo.IEC 61646-10.1 Procedimiento de inspección visualObjetivo: comprobar si hay defectos visuales en el módulo.Rendimiento en STC según IEC 61646-10.2 Condiciones de prueba estándarObjetivo: Utilizando luz natural o un simulador de clase A, en condiciones de prueba estándar (temperatura de la batería: 25 ± 2 ℃, irradiancia: 1000 wm ^ -2, distribución de irradiación del espectro solar estándar de acuerdo con IEC891), pruebe el rendimiento eléctrico del módulo con carga. cambiar.IEC 61646-10.3 Prueba de aislamientoObjetivo: Probar si existe un buen aislamiento entre las partes portadoras de corriente y el marco del módulo.IEC 61646-10.4 Medición de coeficientes de temperatura.Objetivo: Probar el coeficiente de temperatura actual y el coeficiente de temperatura de voltaje en la prueba del módulo. El coeficiente de temperatura medido es válido sólo para la irradiación utilizada en la prueba. Para módulos lineales, es válido dentro del ±30% de esta irradiación. Este procedimiento se suma al IEC891, que especifica la medición de estos coeficientes de celdas individuales en un lote representativo. El coeficiente de temperatura del módulo de células solares de película delgada depende del proceso de tratamiento térmico del módulo involucrado. Cuando se trate del coeficiente de temperatura, se deberán indicar las condiciones de la prueba térmica y los resultados de irradiación del proceso.IEC 61646-10.5 Medición de la temperatura nominal de funcionamiento de la celda (NOCT)Objetivo: Probar el NOCT del módulo.Rendimiento IEC 61646-10.6 en NOCTObjetivo: Cuando la temperatura nominal de funcionamiento de la batería y la irradiancia son 800 Wm^-2, bajo la condición de distribución de irradiancia del espectro solar estándar, el rendimiento eléctrico del módulo varía con la carga.IEC 61646-10.7 Rendimiento a baja irradianciaObjetivo: Determinar el rendimiento eléctrico de módulos bajo carga bajo luz natural o simulador clase A a 25 ℃ y 200 Wm^-2 (medido con celda de referencia adecuada).IEC 61646-10.8 Pruebas de exposición al aire libreObjetivo: Realizar una evaluación desconocida de la resistencia del módulo a la exposición a condiciones exteriores y mostrar cualquier efecto de degradación que no pudo ser detectado por el experimento o prueba.IEC 61646-10.9 Prueba de punto calienteObjetivo: Determinar la capacidad del módulo para resistir efectos térmicos, como el envejecimiento del material de embalaje, el agrietamiento de la batería, fallas de conexión interna, sombras locales o bordes manchados que pueden causar tales defectos.Prueba UV IEC 61646-10.10 (prueba UV)Objetivo: Para confirmar la capacidad del módulo para resistir la radiación ultravioleta (UV), la nueva prueba UV se describe en IEC1345 y, si es necesario, el módulo debe exponerse a la luz antes de realizar esta prueba.Prueba de ciclos térmicos IEC61646-10.11 (ciclos térmicos)Objetivo: Confirmar la capacidad del módulo para resistir la falta de homogeneidad térmica, la fatiga y otras tensiones debidas a cambios repetidos de temperatura. El módulo debe recocerse antes de recibir esta prueba. [Prueba previa a I-V] se refiere a la prueba después del recocido; tenga cuidado de no exponer el módulo a la luz antes de la prueba I-V final.Requisitos de prueba:a. Instrumentos para monitorear la continuidad eléctrica dentro de cada módulo durante todo el proceso de prueba.b. Monitorear la integridad del aislamiento entre uno de los extremos empotrados de cada módulo y el marco o marco de soporte.do. Registre la temperatura del módulo durante toda la prueba y controle cualquier circuito abierto o falla a tierra que pueda ocurrir (sin circuito abierto intermitente ni falla a tierra durante la prueba).d.La resistencia de aislamiento deberá cumplir los mismos requisitos que la medición inicial.IEC 61646-10.12 Prueba de ciclo de congelación de humedadPropósito: Para probar la resistencia del módulo a la influencia de la temperatura bajo cero posterior bajo alta temperatura y humedad, esto no es una prueba de choque térmico, antes de recibir la prueba, el módulo debe recocerse y someterse a una prueba de ciclo térmico, [ [Prueba Pre-I-V] se refiere al ciclo térmico después de la prueba; tenga cuidado de no exponer el módulo a la luz antes de la prueba I-V final.Requisitos de prueba:a. Instrumentos para monitorear la continuidad eléctrica dentro de cada módulo durante todo el proceso de prueba.b. Monitorear la integridad del aislamiento entre uno de los extremos empotrados de cada módulo y el marco o marco de soporte.do. Registre la temperatura del módulo durante toda la prueba y controle cualquier circuito abierto o falla a tierra que pueda ocurrir (sin circuito abierto intermitente ni falla a tierra durante la prueba).d. La resistencia de aislamiento deberá cumplir los mismos requisitos que la medición inicial.IEC 61646-10.13 Prueba de calor húmedo (calor húmedo)Objetivo: Probar la capacidad del módulo para resistir la infiltración de humedad a largo plazo.Requisitos de prueba: la resistencia de aislamiento deberá cumplir los mismos requisitos que la medición inicial.IEC 61646-10.14 Robustez de las terminacionesObjetivo: Determinar si la unión entre el extremo del cable y el extremo del cable al cuerpo del módulo puede soportar la fuerza durante la instalación y operación normales.Prueba de torsión IEC 61646-10.15Objetivo: Detectar posibles problemas causados por la instalación del módulo en una estructura imperfectaIEC 61646-10.16 Prueba de carga mecánicaPropósito: El propósito de esta prueba es determinar la capacidad del módulo para soportar viento, nieve, hielo o cargas estáticas.IEC 61646-10.17 Prueba de granizoObjetivo: Verificar la resistencia al impacto del módulo ante granizo.IEC 61646-10.18 Prueba de inmersión ligeraObjetivo: Estabilizar las propiedades eléctricas de módulos de película delgada simulando la irradiación solar.IEC 61646-10.19 Pruebas de recocido (recocido)Objetivo: El módulo de película se recoce antes de la prueba de verificación. Si no está recocido, el calentamiento durante el procedimiento de prueba posterior puede enmascarar la atenuación causada por otras causas.IEC 61646-10.20 Prueba de corriente de fuga húmedaPropósito: Evaluar el aislamiento del módulo en condiciones de funcionamiento húmedas y verificar que la humedad de la lluvia, la niebla, el rocío o la nieve derretida no ingrese a las partes vivas del circuito del módulo, lo que puede causar corrosión, fallas a tierra o riesgos de seguridad.
Prueba de ciclo de temperatura IEEE1513, prueba de congelación de humedad y prueba de humedad térmica 1Entre los requisitos de prueba de confiabilidad ambiental de las celdas, el receptor y el módulo de células solares concentradas tienen sus propios métodos de prueba y condiciones de prueba en la prueba de ciclo de temperatura, prueba de congelación de humedad y prueba de humedad térmica, y también existen diferencias en la confirmación de calidad después. la prueba. Por lo tanto, IEEE1513 tiene tres pruebas: prueba de ciclo de temperatura, prueba de congelación de humedad y prueba de humedad térmica en la especificación, y sus diferencias y métodos de prueba se clasifican para referencia de todos.Fuente de referencia: IEEE Std 1513-2001Prueba de ciclo térmico IEEE1513-5.7 Prueba de ciclo térmico IEEE1513-5.7Objetivo: Determinar si el extremo receptor puede soportar adecuadamente la falla causada por la diferencia de expansión térmica entre las piezas y el material de la junta, especialmente la junta de soldadura y la calidad del paquete. Antecedentes: Las pruebas de ciclos de temperatura de células solares concentradas revelan fatiga de soldadura de disipadores de calor de cobre y requieren una transmisión ultrasónica completa para detectar el crecimiento de grietas en las células (SAND92-0958 [B5]).La propagación de grietas es una función del número del ciclo de temperatura, la junta de soldadura completa inicial, el tipo de junta de soldadura, entre la batería y el radiador debido al coeficiente de expansión térmica y los parámetros del ciclo de temperatura, después de la prueba del ciclo térmico para verificar la estructura del receptor del Calidad del material de embalaje y aislamiento. Hay dos planes de prueba para el programa, probados de la siguiente manera:Programa A y Programa BProcedimiento A: Pruebe la resistencia del receptor ante el estrés térmico causado por la diferencia de expansión térmica.Procedimiento B: Ciclo de temperatura antes de la prueba de congelación de humedadAntes del pretratamiento, se enfatiza que los defectos iniciales del material receptor son causados por la congelación húmeda real. Para adaptarse a diferentes diseños de energía solar concentrada, se pueden comprobar las pruebas de ciclo de temperatura del programa A y del Programa B, que se enumeran en la Tabla 1 y la Tabla 2.1. Estos receptores están diseñados con células solares conectadas directamente a radiadores de cobre, y las condiciones requeridas se enumeran en la tabla de la primera fila.2. Esto garantizará que se descubran posibles mecanismos de falla que puedan provocar defectos durante el proceso de desarrollo. Estos diseños adoptan diferentes métodos y pueden utilizar condiciones alternativas como se muestra en la tabla para despegar el radiador de la batería.La Tabla 3 muestra que la porción receptora realiza un ciclo de temperatura del programa B antes de la alternativa.Dado que el programa B prueba principalmente otros materiales en el extremo receptor, se ofrecen alternativas para todos los diseños.Tabla 1 - Prueba del procedimiento del ciclo de temperatura para receptoresPrograma A- Ciclo térmicoOpciónTemperatura máximaNúmero total de ciclosSolicitud actualDiseño requeridoTCR-A110℃250NoLa batería está soldada directamente al radiador de cobre.TCR-B90℃500NoOtros registros de diseñoTCR-C90℃250I(aplicado) = IscOtros registros de diseñoTabla 2 - Prueba del procedimiento del ciclo de temperatura del receptorProcedimiento B- Ciclo de temperatura antes de la prueba de congelación húmedaOpciónTemperatura máximaNúmero total de ciclosSolicitud actualDiseño requeridoHFR-A 110℃100NoDocumentación de todos los diseños. HFR-B 90℃200NoDocumentación de todos los diseños. HFR-C 90℃100I(aplicado) = IscDocumentación de todos los diseños. Procedimiento: El extremo receptor se someterá a un ciclo de temperatura entre -40 °C y la temperatura máxima (siguiendo el procedimiento de prueba en la Tabla 1 y Tabla 2), la prueba del ciclo se puede colocar en una o dos cajas de cámara de prueba de choque de temperatura del gas, no se debe utilizar el ciclo de choque líquido, el tiempo de permanencia es de al menos 10 minutos y la temperatura alta y baja debe estar dentro del requisito de ±5 °C. La frecuencia de los ciclos no debe ser mayor a 24 ciclos al día ni menor a 4 ciclos al día, la frecuencia recomendada es de 18 veces al día.El número de ciclos térmicos y la temperatura máxima requerida para las dos muestras, se refieren a la Tabla 3 (Procedimiento B de la Figura 1), luego de lo cual se realizará una inspección visual y una prueba de características eléctricas (consulte 5.1 y 5.2). Estas muestras se someterán a una prueba de congelación húmeda, según 5.8, y un receptor más grande se referirá a 4.1.1 (este procedimiento se ilustra en la Figura 2).Antecedentes: El propósito de la prueba del ciclo de temperatura es acelerar la prueba que aparecerá en el mecanismo de falla a corto plazo, previo a la detección de falla del hardware solar de concentración, por lo tanto, la prueba incluye la posibilidad de ver una amplia diferencia de temperatura más allá del módulo. rango, el límite superior del ciclo de temperatura de 60 ° C se basa en la temperatura de ablandamiento de muchas lentes acrílicas del módulo; para otros diseños, la temperatura del módulo. El límite superior del ciclo de temperatura es 90 °C (ver Tabla 3)Tabla 3- Lista de condiciones de prueba para ciclos de temperatura del móduloProcedimiento B Pretratamiento del ciclo de temperatura antes de la prueba de congelación húmedaOpciónTemperatura máximaNúmero total de ciclosSolicitud actualDiseño requeridoMTC-A 90℃50NoDocumentación de todos los diseños. TEM-B 60℃200NoEs posible que se requiera un diseño de módulo de lente de plástico
Prueba de ciclo de temperatura IEEE1513 y prueba de congelación húmeda, prueba de calor y humedad 2Pasos:Ambos módulos realizarán 200 ciclos de temperatura entre -40 °C y 60 °C o 50 ciclos de temperatura entre -40 °C y 90 °C, como se especifica en ASTM E1171-99.Nota:ASTM E1171-01: Método de prueba para módulo fotoeléctrico a temperatura y humedad del circuitoNo es necesario controlar la humedad relativa.La variación de temperatura no debe exceder los 100 ℃/hora.El tiempo de residencia debe ser de al menos 10 minutos y la temperatura alta y baja debe estar dentro del requisito de ±5 ℃Requisitos:a. El módulo será inspeccionado para detectar cualquier daño o degradación evidente después de la prueba del ciclo.b. El módulo no debe presentar grietas ni deformaciones y el material de sellado no debe deslaminarse.do. Si hay una prueba de función eléctrica selectiva, la potencia de salida debe ser del 90% o más en las mismas condiciones que muchos parámetros básicos originales.Agregado:IEEE1513-4.1.1 Muestra de prueba del receptor o módulo representativo, si el tamaño de un módulo o receptor completo es demasiado grande para caber en una cámara de prueba ambiental existente, el representante del módulo o la muestra de prueba del receptor se puede sustituir por un módulo o receptor de tamaño completo.Estas muestras de prueba deben ensamblarse especialmente con un receptor de reemplazo, como si contuvieran una cadena de celdas conectadas a un receptor de tamaño completo, la cadena de baterías debe ser larga e incluir al menos dos diodos de derivación, pero en cualquier caso tres celdas son relativamente pocas. , que resume la inclusión de enlaces con el terminal receptor de repuesto debe ser el mismo que el del módulo completo.El receptor de reemplazo incluirá componentes representativos de los otros módulos, incluida la lente/carcasa de la lente, el receptor/carcasa del receptor, el segmento trasero/la lente del segmento trasero, la caja y el conector del receptor; se probarán los procedimientos A, B y C.Se deben utilizar dos módulos de tamaño completo para el procedimiento de prueba de exposición al aire libre D.IEEE1513-5.8 Prueba del ciclo de congelación de humedad Prueba del ciclo de congelación de humedadReceptorObjetivo:Determinar si la parte receptora es suficiente para resistir el daño por corrosión y la capacidad de la expansión de la humedad para expandir las moléculas del material. Además, el vapor de agua congelado es la tensión para determinar la causa de la falla.Procedimiento:Las muestras después del ciclo de temperatura se probarán de acuerdo con la Tabla 3 y se someterán a una prueba de congelación húmeda a 85 ℃ y -40 ℃, humedad del 85 % y 20 ciclos. Según ASTM E1171-99, el extremo receptor con gran volumen deberá referirse a 4.1.1Requisitos:La parte receptora deberá cumplir con los requisitos de 5.7. Saque del tanque ambiental dentro de 2 a 4 horas y la parte receptora debe cumplir con los requisitos de la prueba de fuga de aislamiento de alto voltaje (consulte 5.4).móduloObjetivo:Determine si el módulo tiene capacidad suficiente para resistir la corrosión dañina o la ampliación de las diferencias de unión de materiales.Procedimiento: Ambos módulos serán sometidos a pruebas de congelación húmeda durante 20 ciclos, 4 o 10 ciclos a 85°C como se muestra en ASTM E1171-99.Tenga en cuenta que la temperatura máxima de 60 °C es inferior a la sección de prueba de congelación húmeda en el extremo receptor.Se completará una prueba completa de aislamiento de alto voltaje (ver 5.4) después de un ciclo de dos a cuatro horas. Después de la prueba de aislamiento de alta tensión, se llevará a cabo la prueba de rendimiento eléctrico como se describe en 5.2. En módulos grandes también se podrán completar, ver 4.1.1.Requisitos:a. El módulo comprobará si hay algún daño o degradación evidente después de la prueba y registrará cualquier daño.b. El módulo no debe presentar grietas, deformaciones ni corrosión grave. No debe haber capas de material sellador.do. El módulo deberá pasar la prueba de aislamiento de alto voltaje como se describe en IEEE1513-5.4.Si hay una prueba de función eléctrica selectiva, la potencia de salida puede alcanzar el 90% o más en las mismas condiciones de muchos parámetros básicos originales.IEEE1513-5.10 Prueba de calor húmedo IEEE1513-5.10 Prueba de calor húmedoObjetivo: Evaluar el efecto y la capacidad del extremo receptor para resistir la infiltración de humedad a largo plazo.Procedimiento: El receptor de prueba se prueba en una cámara de prueba ambiental con 85 % ± 5 % de humedad relativa y 85 ° C ± 2 ° C como se describe en ASTM E1171-99. Esta prueba debe completarse en 1000 horas, pero se pueden agregar 60 horas adicionales para realizar una prueba de fuga de aislamiento de alto voltaje. La parte receptora se puede utilizar para realizar pruebas.Requisitos: El extremo receptor debe salir de la cámara de prueba de calor húmedo durante 2 ~ 4 horas para pasar la prueba de fugas de aislamiento de alto voltaje (ver 5.4) y pasar la inspección visual (ver 5.1). Si hay una prueba de función eléctrica selectiva, la potencia de salida debe ser del 90% o más en las mismas condiciones de muchos parámetros básicos originales.Procedimientos de inspección y prueba del módulo IEEE1513IEEE1513-5.1 Procedimiento de inspección visualPropósito: Establecer el estado visual actual para que el extremo receptor pueda comparar si pasan cada prueba y garantizar que cumplen con los requisitos para pruebas adicionales.Prueba de rendimiento eléctrico IEEE1513-5.2Objetivo: Describir las características eléctricas del módulo de prueba y del receptor y determinar su potencia máxima de salida.Prueba de continuidad de tierra IEEE1513-5.3Propósito: Verificar la continuidad eléctrica entre todos los componentes conductores expuestos y el módulo de puesta a tierra.Prueba de aislamiento eléctrico IEEE1513-5.4 (seco hi-po)Propósito: Garantizar que el aislamiento eléctrico entre el módulo del circuito y cualquier parte conductora de contacto externo sea suficiente para evitar la corrosión y salvaguardar la seguridad de los trabajadores.Prueba de resistencia de aislamiento húmedo IEEE1513-5.5Propósito: Verificar que la humedad no pueda penetrar la parte electrónicamente activa del extremo receptor, donde podría causar corrosión, falla a tierra o identificar peligros para la seguridad humana.Prueba de pulverización de agua IEEE1513-5.6Objetivo: La prueba de resistencia húmeda en campo (FWRT) evalúa el aislamiento eléctrico de los módulos de células solares en función de las condiciones de funcionamiento de humedad. Esta prueba simula lluvia intensa o rocío en su configuración y cableado para verificar que no ingrese humedad al circuito de matriz utilizado, lo que puede aumentar la corrosividad, causar fallas a tierra y crear riesgos de seguridad eléctrica para el personal o el equipo.Prueba de ciclo térmico IEEE1513-5.7 (Prueba de ciclo térmico)Objetivo: Determinar si el extremo receptor puede soportar adecuadamente la falla causada por la diferencia en la expansión térmica de las piezas y materiales de las juntas.Prueba de ciclo de congelación de humedad IEEE1513-5.8Objetivo: determinar si la pieza receptora es suficientemente resistente a los daños por corrosión y a la capacidad de la expansión de la humedad para expandir las moléculas del material. Además, el vapor de agua congelado es el factor determinante para determinar la causa del fallo.IEEE1513-5.9 Prueba de robustez de terminacionesPropósito: Para asegurar los cables y conectores, aplique fuerzas externas en cada parte para confirmar que sean lo suficientemente fuertes como para mantener los procedimientos de manipulación normales.IEEE1513-5.10 Prueba de calor húmedo (Prueba de calor húmedo)Objetivo: Evaluar el efecto y la capacidad del extremo receptor para resistir la infiltración de humedad a largo plazo. IEEE1513-5.11 Prueba de impacto de granizoObjetivo: Determinar si algún componente, especialmente el condensador, puede sobrevivir al granizo. ES DECIREE1513-5.12 Prueba térmica del diodo de derivación (Prueba térmica del diodo de derivación)Objetivo: Evaluar la disponibilidad de un diseño térmico suficiente y el uso de diodos de derivación con relativa confiabilidad a largo plazo para limitar los efectos adversos de la difusión por desplazamiento térmico del módulo.Prueba de resistencia de punto caliente IEEE1513-5.13 (prueba de resistencia de punto caliente)Objetivo: Evaluar la capacidad de los módulos para soportar cambios de calor periódicos a lo largo del tiempo, comúnmente asociados con escenarios de falla como chips de celdas severamente agrietados o no coincidentes, fallas de circuito abierto de un solo punto o sombras desiguales (porciones sombreadas). IEEE1513-5.14 Prueba de exposición al aire libre (Prueba de exposición al aire libre)Propósito: Para evaluar preliminarmente la capacidad del módulo para resistir la exposición a ambientes exteriores (incluida la radiación ultravioleta), es posible que las pruebas de laboratorio no detecten la efectividad reducida del producto.IEEE1513-5.15 Prueba de daño del haz fuera del ejePropósito: Asegurar que cualquier parte del módulo sea destruida debido a la desviación del módulo del haz de radiación solar concentrada.
Aplicación de la cámara de ciclo de temperatura TCT en la industria de las comunicaciones ópticasLa llegada de 5G hace que la gente sienta el rápido desarrollo de Internet móvil y también se ha desarrollado la tecnología de comunicación óptica como una base importante. En la actualidad, China ha construido la red de fibra óptica más larga del mundo y, con el avance continuo de la tecnología 5G, la tecnología de comunicación óptica se utilizará más ampliamente. El desarrollo de la tecnología de comunicación óptica no solo permite a las personas disfrutar de una velocidad de red más rápida, sino que también trae más oportunidades y desafíos. Por ejemplo, nuevas aplicaciones como los juegos en la nube, la realidad virtual y la realidad aumentada requieren redes más estables y de alta velocidad, y la tecnología de comunicación óptica puede satisfacer estas necesidades. Al mismo tiempo, la tecnología de comunicación óptica también ha brindado más oportunidades de innovación, como la atención médica inteligente, la fabricación inteligente y otros campos, utilizarán la tecnología de comunicación óptica para lograr un funcionamiento más eficiente y preciso. ¿Pero sabes qué? Esta asombrosa tecnología no se puede lograr sin el crédito de los equipos de prueba macroambientales, especialmente la cámara de prueba del ciclo de temperatura TC, que es una cámara de prueba de cambio rápido de temperatura. Este artículo le presenta el administrador de calidad de las pruebas de confiabilidad de productos de comunicaciones ópticas: laboratorio de cambio rápido de temperatura.Primero, hablemos brevemente sobre la comunicación óptica. Algunas personas también dicen que se llama comunicación óptica, por lo que al final son dos no es un concepto. De hecho, son dos del mismo concepto. La comunicación óptica es el uso de señales ópticas para la tecnología de la comunicación, y la comunicación óptica se basa en la comunicación óptica, a través de dispositivos ópticos como fibras ópticas y cables ópticos para lograr la transmisión de datos. La tecnología de comunicación óptica se utiliza ampliamente, como nuestro uso diario de banda ancha de fibra óptica, sensores ópticos de teléfonos móviles, medición óptica en el sector aeroespacial, etc. Se puede decir que la comunicación óptica se ha convertido en una parte importante del campo de la comunicación moderna. Entonces, ¿por qué es tan popular la comunicación óptica? De hecho, tiene muchas ventajas, como transmisión de alta velocidad, gran ancho de banda, baja pérdida, etc.Los productos de comunicación óptica comunes incluyen: cable óptico, conmutador de fibra, módem de fibra, etc., utilizados para transmitir y recibir señales ópticas de equipos de comunicación de fibra óptica; El sensor de temperatura, el sensor de tensión, el sensor de desplazamiento, etc., pueden medir varias cantidades físicas en tiempo real y otros sensores de fibra óptica; Amplificador óptico dopado con erbio, amplificador óptico dopado con iterbio y erbio, amplificador Raman, etc., utilizados para ampliar la intensidad de las señales ópticas y otros amplificadores ópticos; El láser de helio-neón, el láser de diodo, el láser de fibra, etc., son fuentes de luz en comunicación óptica, que se utilizan para producir luz láser de alto brillo, direccional y coherente y otros láseres; Fotodetectores, limitadores ópticos, fotodiodos, etc., para recibir señales ópticas y convertirlas en señales eléctricas y otros receptores ópticos; Los interruptores ópticos, los moduladores ópticos, los conjuntos ópticos programables, etc. se utilizan para controlar y ajustar la transmisión y el enrutamiento de señales ópticas y otros controladores ópticos. Tomemos los teléfonos móviles como ejemplo y hablemos de la aplicación de productos de comunicación óptica en teléfonos móviles:1. Fibra óptica: La fibra óptica se utiliza generalmente como parte de la línea de comunicación; debido a su rápida velocidad de transmisión, las señales de comunicación no se ven fácilmente afectadas por interferencias externas y otras características, se ha convertido en una parte importante de la comunicación por teléfono móvil.2. Convertidor fotoeléctrico/módulo óptico: el convertidor fotoeléctrico y el módulo óptico son dispositivos que convierten señales ópticas en señales eléctricas y también son una parte muy importante de la comunicación de los teléfonos móviles. En la era de las comunicaciones de alta velocidad, como 4G y 5G, la velocidad y el rendimiento de dichos equipos deben mejorarse continuamente para satisfacer las necesidades de una comunicación rápida y estable.3. Módulo de cámara: en el teléfono móvil, el módulo de cámara generalmente incluye CCD, CMOS, lentes ópticas y otras partes, y su calidad y rendimiento también tienen un impacto significativo en la calidad de la comunicación óptica del teléfono móvil.4. Pantalla: las pantallas de los teléfonos móviles generalmente utilizan OLED, AMOLED y otras tecnologías; el principio de estas tecnologías está relacionado con la óptica, pero también es una parte importante de la comunicación óptica de los teléfonos móviles.5. Sensor de luz: El sensor de luz se utiliza principalmente en teléfonos móviles para detección de luz ambiental, detección de proximidad y detección de gestos, y también es un importante producto de comunicación óptica para teléfonos móviles.Se puede decir que los productos de comunicación óptica llenan todos los aspectos de nuestra vida y trabajo. Sin embargo, el entorno de producción y uso de los productos de comunicación óptica a menudo cambia, como el entorno climático de alta o baja temperatura cuando se trabaja al aire libre, o el uso durante mucho tiempo también encontrará cambios en la expansión y contracción térmica. Entonces, ¿cómo se logra el uso confiable de estos productos? Cabe mencionar a nuestro protagonista de hoy: la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura, también conocida como caja TC en la industria de las comunicaciones ópticas. Para garantizar que los productos de comunicación óptica sigan funcionando normalmente en diversas condiciones ambientales, es necesario realizar pruebas rápidas de cambio de temperatura en los productos de comunicación óptica. La cámara de prueba de cambio rápido de temperatura puede simular una variedad de ambientes de temperatura y humedad diferentes, y simular cambios ambientales extremos instantáneos en el mundo real dentro de un rango rápido. Entonces, ¿cómo se aplica la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura en la industria de las comunicaciones ópticas?1. Prueba de rendimiento del módulo óptico: el módulo óptico es un componente clave de la comunicación óptica, como transceptor óptico, amplificador óptico, interruptor óptico, etc. La cámara de prueba de cambio rápido de temperatura puede simular diferentes entornos de temperatura y probar el rendimiento del módulo óptico en diferentes temperaturas para evaluar su adaptabilidad y confiabilidad.2. Prueba de confiabilidad de dispositivos ópticos: los dispositivos ópticos incluyen fibras ópticas, sensores ópticos, rejillas, cristales fotónicos, fotodiodos, etc. La cámara de prueba de cambio rápido de temperatura puede probar el cambio de temperatura de estos dispositivos ópticos y evaluar su confiabilidad y vida útil según el resultados de la prueba.3. Prueba de simulación del sistema de comunicación óptica: la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura puede simular diversas condiciones ambientales en el sistema de comunicación óptica, como temperatura, humedad, vibración, etc., para probar el rendimiento, la confiabilidad y la estabilidad de todo el sistema.4. Investigación y desarrollo de tecnología: la industria de las comunicaciones ópticas es una industria intensiva en tecnología, que necesita desarrollar constantemente nuevas tecnologías y nuevos productos. La cámara de prueba de cambio rápido de temperatura se puede utilizar para probar el rendimiento y la confiabilidad de nuevos productos, lo que ayuda a acelerar el desarrollo y el mercado de nuevos productos.En resumen, se puede ver que en la industria de las comunicaciones ópticas, la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura se usa generalmente para probar el rendimiento y la confiabilidad de módulos ópticos y dispositivos ópticos. Luego, cuando utilizamos la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura para realizar pruebas, diferentes productos de comunicación óptica pueden requerir diferentes estándares. Los siguientes son estándares de prueba de cambio rápido de temperatura para algunos productos de comunicación óptica comunes:1. Fibra óptica: estándares de prueba comunes Existen estándares de prueba de cambio rápido de temperatura de fibra óptica comunes que son los siguientes: IEC 61300-2-22: La norma define el método de prueba de estabilidad y durabilidad de los componentes de fibra óptica, cuya sección 4.3 especifica la temperatura. Método de prueba de estabilidad de componentes de fibra óptica, en el caso de cambios rápidos de temperatura en los componentes de fibra óptica para medición y evaluación. GR-326-CORE: Esta norma especifica los requisitos de prueba de confiabilidad para conectores y adaptadores de fibra óptica, incluidas pruebas de estabilidad térmica para evaluar la confiabilidad de conectores y adaptadores de fibra óptica en entornos con cambios de temperatura. GR-468-CORE: Este estándar define las especificaciones de rendimiento y los métodos de prueba para conectores de fibra óptica, incluidas pruebas de ciclos de temperatura, pruebas de envejecimiento acelerado, etc., para verificar la confiabilidad y estabilidad de los conectores de fibra óptica en diversas condiciones ambientales. ASTM F2181: esta norma define un método para realizar pruebas de falla de la fibra en condiciones ambientales de alta temperatura y alta humedad para evaluar la durabilidad a largo plazo de la fibra. Y los estándares anteriores, como GB/T 2423.22-2012, se prueban y evalúan para determinar la confiabilidad de la fibra óptica en cambios rápidos de temperatura o ambientes de alta temperatura y humedad a largo plazo, lo que puede ayudar a la mayoría de los fabricantes a garantizar la calidad y confiabilidad. de productos de fibra óptica.2. Convertidor fotoeléctrico/módulo óptico: Los estándares comunes de prueba de cambio rápido de temperatura son GB/T 2423.22-2012, GR-468-CORE, EIA/TIA-455-14 e IEEE 802.3. Estos estándares cubren principalmente los métodos de prueba y los pasos de implementación específicos de convertidores fotoeléctricos/módulos ópticos, que pueden garantizar el rendimiento y la confiabilidad de los productos en diferentes ambientes de temperatura. Entre ellos, el estándar GR-468-CORE es específicamente para los requisitos de confiabilidad de los convertidores y módulos ópticos, incluida la prueba de ciclo de temperatura, la prueba de calor húmedo y otras pruebas ambientales, que requieren que los convertidores y módulos ópticos mantengan un rendimiento estable y confiable en largos periodos de tiempo. -término de uso.3. Sensor óptico: Los estándares comunes de prueba de cambio rápido de temperatura son GB/T 27726-2011, IEC 61300-2-43 e IEC 61300-2-6. Estos estándares cubren principalmente los métodos de prueba y los pasos de implementación específicos de la prueba de cambio de temperatura del sensor óptico, que pueden garantizar el rendimiento y la confiabilidad del producto en diferentes entornos de temperatura. Entre ellos, el estándar GB/T 27726-2011 es el estándar para el método de prueba de rendimiento de sensores ópticos en China, incluido el método de prueba ambiental de sensores de fibra óptica, que requiere que el sensor óptico mantenga un rendimiento estable en una variedad de entornos de trabajo. . El estándar IEC 60749-15 es el estándar internacional para la prueba del ciclo de temperatura de componentes electrónicos y también tiene un valor de referencia para la prueba de cambio rápido de temperatura de sensores ópticos.4. Láser: Los estándares comunes de prueba de cambio rápido de temperatura son GB/T 2423.22-2012 "Prueba ambiental de productos eléctricos y electrónicos Parte 2: Prueba Nb: prueba de ciclo de temperatura", GB/T 2423.38-2002 "Métodos de prueba básicos para componentes eléctricos Parte 38 : Prueba de resistencia a la temperatura (IEC 60068-2-2), GB/T 13979-2009 "Método de prueba de rendimiento del producto láser", IEC 60825-1, IEC/TR 61282-10 y otras normas cubren principalmente el método de prueba de cambio de temperatura del láser y pasos de implementación específicos. Puede garantizar el rendimiento y la confiabilidad de los productos en diferentes entornos de temperatura. Entre ellos, el estándar GB/T 13979-2009 es el estándar para el método de prueba de rendimiento de productos láser en China, incluido el método de prueba ambiental del. láser bajo cambios de temperatura, lo que requiere que el láser mantenga un rendimiento estable en una variedad de entornos de trabajo. La norma IEC 60825-1 es una especificación para la integridad de los productos láser, y también existen disposiciones relevantes para la prueba de cambio rápido de temperatura de los láseres. Además, la norma IEC/TR 61282-10 es una de las directrices para el diseño de sistemas de comunicación por fibra óptica, que incluye métodos para la protección ambiental de los láseres.5. Controlador óptico: Los estándares comunes de prueba de cambio rápido de temperatura son GR-1209-CORE y GR-1221-CORE. GR-1209-CORE es un estándar de confiabilidad para equipos de fibra óptica, principalmente para la prueba de confiabilidad de conexiones ópticas, y especifica el experimento de confiabilidad de sistemas de conexión óptica. Entre ellos, el ciclo rápido de temperatura (FTC) es uno de los proyectos de prueba, que consiste en probar la confiabilidad de los módulos de fibra óptica en condiciones de temperatura que cambian rápidamente. Durante la prueba, el controlador óptico debe realizar ciclos de temperatura en el rango de -40 °C a 85 °C. Durante el ciclo de temperatura, el módulo debe mantener su funcionamiento normal y no producir una salida anormal, y el tiempo de prueba es de 100 ciclos de temperatura. . GR-1221-CORE es un estándar de confiabilidad para dispositivos pasivos de fibra óptica y es adecuado para probar dispositivos pasivos. Entre ellos, la prueba del ciclo de temperatura es uno de los elementos de prueba, que también requiere que el controlador óptico se pruebe en el rango de -40 °C a 85 °C, y el tiempo de prueba es de 100 ciclos. Ambos estándares especifican la prueba de confiabilidad del controlador óptico en un ambiente de cambio de temperatura, que puede determinar la estabilidad y confiabilidad del controlador óptico en condiciones ambientales adversas.En general, los diferentes estándares de prueba de cambio rápido de temperatura pueden centrarse en diferentes parámetros y métodos de prueba; se recomienda elegir los estándares de prueba correspondientes de acuerdo con el uso de productos específicos.Recientemente, cuando hablamos de la verificación de confiabilidad de los módulos ópticos, hay un indicador contradictorio: el número de ciclos de temperatura de la verificación del módulo óptico es 10 veces, 20 veces, 100 veces o incluso 500 veces.Definiciones de frecuencia en dos estándares de la industria:Las referencias a estas normas tienen fuentes claras y son correctas.Para el módulo óptico directo 5G, nuestra opinión es que el número de ciclos es 500 y la temperatura se establece en -40 °C ~85 °C.La siguiente es la descripción del 20/10/100/500 anterior en el texto original del GR-468(2004)Debido al espacio limitado, este artículo presenta el uso de una cámara de prueba de cambio rápido de temperatura en la industria de las comunicaciones ópticas. Si tiene alguna pregunta sobre el uso de la cámara de prueba de cambio rápido de temperatura y otros equipos de prueba ambientales, bienvenido a hablar con nosotros y aprender juntos.
CEI 60068-2 Instrucciones:IEC(Asociación Electrotécnica Internacional) es la organización internacional no gubernamental de normalización eléctrica más antigua del mundo, para el sustento de las personas de los productos electrónicos para desarrollar especificaciones y métodos de prueba relevantes, tales como: placa base, computadoras portátiles, tabletas, teléfonos inteligentes, pantallas LCD, consolas de juegos... El espíritu principal de su prueba se extiende desde IEC, cuyo principal representante es IEC60068-2, las condiciones de prueba ambiental su [prueba ambiental] se refiere a la muestra expuesta a ambientes naturales y artificiales, pero el rendimiento de su Se evalúan las condiciones reales de uso, transporte y almacenamiento. La prueba ambiental de la muestra puede ser uniforme y lineal mediante el uso de estándares estandarizados. Las pruebas ambientales pueden simular si el producto puede adaptarse a los cambios ambientales (temperatura, humedad, vibración, cambio de temperatura, choque térmico, niebla salina, polvo) en diferentes etapas (almacenamiento, transporte, uso). Y verifique que las características y la calidad del producto en sí no se vean afectadas por él, baja temperatura, alta temperatura, el impacto de la temperatura puede producir tensión mecánica, esta tensión hace que la muestra de prueba sea más sensible a la prueba posterior, el impacto y la vibración pueden producir tensión mecánica. estrés, este estrés puede dañar inmediatamente la muestra, presión del aire, calor húmedo alternativo, calor húmedo constante, aplicación de corrosión de estas pruebas y pueden continuar los efectos de las pruebas de estrés térmico y mecánico.Intercambio de especificaciones IEC importantes:IEC69968-2-1- FríoPropósito de la prueba: Probar la capacidad de los componentes, equipos u otros productos componentes de automóviles para operar y almacenar a bajas temperaturas.Los métodos de prueba se dividen en:1.Aa: Método de cambio repentino de temperatura para muestras no térmicas2.Ab: Método de gradiente de temperatura para muestras no térmicas3.Anuncio: método de gradiente de temperatura de muestra termogénicaNota:Automóvil club británico:1. Prueba estática (sin fuente de alimentación).2. Primero enfríe a la temperatura especificada de la especificación antes de colocar la pieza de prueba.3. Después de la estabilidad, la diferencia de temperatura de cada punto de la muestra no excede ±3 ℃.4. Una vez finalizada la prueba, la muestra se coloca bajo presión atmosférica estándar hasta que la niebla se elimine por completo: no se agrega voltaje a la muestra durante el proceso de transferencia.5. Mida después de regresar a la condición original (al menos 1 hora).abdominales:1. Prueba estática (sin fuente de alimentación).2. La muestra se coloca en el gabinete a temperatura ambiente y el cambio de temperatura del gabinete no excede 1 ℃ por minuto.3. La muestra se mantendrá en el gabinete después de la prueba y el cambio de temperatura del gabinete no excederá 1 ℃ por minuto para volver a la presión atmosférica estándar; La muestra no debe cargarse durante el cambio de temperatura.4. Mida después de regresar a la condición original (al menos 1 hora). (La diferencia entre la temperatura y la temperatura del aire es más de 5 ℃).C.A:1. Prueba dinámica (más fuente de alimentación) cuando la temperatura de la muestra es estable después de la carga, la temperatura de la superficie de la muestra es el punto más caliente.2. La muestra se coloca en el gabinete a temperatura ambiente y el cambio de temperatura del gabinete no excede 1 ℃ por minuto.3. La muestra debe mantenerse en el gabinete después de la prueba, y el cambio de temperatura del gabinete no debe exceder 1 ℃ por minuto y volver a la presión atmosférica estándar; La muestra no debe cargarse durante el cambio de temperatura.4. Mida después de regresar a la condición original (al menos 1 hora).Condiciones de prueba:1. Temperatura:-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5°C2. Tiempo de residencia: 16/2/72/96 horas.3. Tasa de variación de temperatura: no más de 1 ℃ por minuto.4. Error de tolerancia: +3°C.Configuración de prueba:1. Las muestras que generen calor deben colocarse en el centro del gabinete de prueba y la pared del gabinete > 15 cm.Muestra a espécimen > gabinete de prueba de 15 cm a relación de volumen de prueba > 5:1.2. Para muestras que generen calor, si se utiliza convección de aire, el caudal debe mantenerse al mínimo.3. La muestra se debe desembalar y el dispositivo debe tener las características de alta conducción de calor. IEC 60068-2-2- Calor secoPropósito de la prueba: Probar la capacidad de los componentes, equipos u otros productos componentes para operar y almacenar en ambientes de alta temperatura.El método de prueba es:1. Ba: método de cambio repentino de temperatura para muestras no térmicas2.Bb: Método de gradiente de temperatura para muestras no térmicas3.Bc: Método de cambio repentino de temperatura para muestras termogénicas4.Bd: Método de gradiente de temperatura para muestras termogénicasNota:Licenciado en Letras:1. Prueba estática (sin fuente de alimentación).2. Primero enfríe a la temperatura especificada de la especificación antes de colocar la pieza de prueba.3. Después de la estabilidad, la diferencia de temperatura de cada punto de la muestra no supera los +5 ℃.4. Una vez completada la prueba, coloque la muestra bajo presión atmosférica estándar y vuelva a su estado original (al menos 1 hora).Cama y desayuno:1. Prueba estática (sin fuente de alimentación).2. La muestra se coloca en el gabinete a temperatura ambiente, y el cambio de temperatura del gabinete no excede 1 ℃ por minuto, y la temperatura se reduce al valor de temperatura especificado en la especificación.3. La muestra se mantendrá en el gabinete después de la prueba y el cambio de temperatura del gabinete no excederá 1 ℃ por minuto para volver a la presión atmosférica estándar; La muestra no debe cargarse durante el cambio de temperatura.4. Mida después de regresar a la condición original (al menos 1 hora).Antes de Cristo:1. Prueba dinámica (fuente de alimentación externa) Cuando la temperatura de la muestra es estable después de la carga, la diferencia entre la temperatura del punto más caliente de la superficie de la muestra y la temperatura del aire es superior a 5 ℃.2. Calentar hasta la temperatura especificada en la especificación antes de colocar la pieza de prueba.3. Después de la estabilidad, la diferencia de temperatura de cada punto de la muestra no supera los +5 ℃.4. Una vez completada la prueba, la muestra se colocará bajo la presión atmosférica estándar y la medición se llevará a cabo después de que se recupere su condición original (al menos 1 hora).5. La temperatura promedio del punto decimal en el plano de 0~50 mm en la superficie inferior de la muestra.Bd:1. Prueba dinámica (fuente de alimentación externa) cuando la temperatura de la muestra es estable después de la carga, la temperatura del punto más caliente en la superficie de la muestra es más de 5°C diferente de la temperatura del aire.2. La muestra se coloca en el gabinete a temperatura ambiente y el cambio de temperatura del gabinete no excede 1 ℃ por minuto y se eleva al valor de temperatura especificado.3. Volver a la presión atmosférica estándar; La muestra no debe cargarse durante el cambio de temperatura.4. Mida después de regresar a la condición original (al menos 1 hora).Condiciones de prueba:1. La temperatura 1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30 ℃.1. Tiempo de residencia: 16/2/72/96 horas.2. Tasa de variación de temperatura: no más de 1 ℃ por minuto. (Promedio en 5 minutos)3. Error de tolerancia: tolerancia de ±2 ℃ por debajo de 200 ℃. (tolerancia de 200 ~ 1000 ℃ ± 2%) IEC 60068-2-2- Método de prueba Ca: Calor húmedo constante1. Propósito de la prueba:El propósito de este método de prueba es determinar la adaptabilidad de componentes, equipos u otros productos a la operación y almacenamiento a temperatura constante y alta humedad relativa.Paso 2: AlcanceEste método de prueba se puede aplicar tanto a muestras que disipan calor como a las que no lo disipan.3. Sin límites4. Pasos de prueba:4.1 Las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes antes de realizar el ensayo.4.2 La muestra de prueba debe colocarse en el gabinete de prueba de acuerdo con las especificaciones pertinentes. Para evitar la formación de gotas de agua en la muestra de prueba después de colocarla en el gabinete, es mejor precalentar la temperatura de la muestra de prueba a las condiciones de temperatura en el gabinete de prueba con anticipación.4.3 La muestra se aislará de acuerdo con la residencia especificada.4.4 Si se especifica en las especificaciones pertinentes, las pruebas y mediciones funcionales se realizarán durante o después de la prueba, y las pruebas funcionales se realizarán de acuerdo con el ciclo requerido en las especificaciones, y las piezas de prueba no se moverán fuera de la prueba. gabinete.4.5 Después del ensayo, la muestra debe colocarse en condiciones atmosféricas estándar durante al menos una hora y como máximo dos horas para que vuelva a su estado original. Dependiendo de las características de la muestra o de las diferentes energías del laboratorio, la muestra se puede retirar o retener en el gabinete de prueba para esperar la recuperación, si se desea que el tiempo de extracción sea lo más corto posible, preferiblemente no más de cinco minutos. si se mantiene en el gabinete, la humedad debe reducirse a 73 % a 77 % H.R. en 30 minutos, mientras que la temperatura también debe alcanzar la temperatura del laboratorio en 30 minutos en un rango de +1 ℃.5. Condiciones de prueba5.1 Temperatura de prueba: La temperatura en el gabinete de prueba debe controlarse dentro del rango de 40+2°C.5.2 Humedad relativa: La humedad en el gabinete de prueba debe controlarse a 93 (+2/-3)% H.R. dentro del rango.5.3 Tiempo de residencia: El tiempo de residencia puede ser de 4 días, 10 días, 21 días o 56 días.5.4 Tolerancia de prueba: la tolerancia de temperatura es de +2 ℃, error en la medición del contenido del paquete, cambio lento de temperatura y diferencia de temperatura en el gabinete de temperatura. Sin embargo, para facilitar el mantenimiento de la humedad dentro de un cierto rango, la temperatura de dos puntos cualesquiera en el gabinete de prueba debe mantenerse dentro del rango mínimo en la medida de lo posible en cualquier momento. Si la diferencia de temperatura supera 1 ° C, la humedad cambia más allá del rango permitido. Por lo tanto, es posible que incluso los cambios de temperatura a corto plazo deban controlarse dentro de 1 ° C.6. Configuración de prueba6.1 Se deben instalar dispositivos sensores de temperatura y humedad en el gabinete de prueba para monitorear la temperatura y la humedad en el gabinete.6.2 No deberá haber gotas de agua de condensación en la muestra de prueba en la parte superior o en la pared del gabinete de prueba.6.3 El agua condensada en el gabinete de prueba debe descargarse continuamente y no debe usarse nuevamente a menos que se purifique (repurifique).6.4 Cuando la humedad en el gabinete de prueba se logra rociando agua en el gabinete de prueba, el coeficiente de resistencia a la humedad no debe ser inferior a 500 Ω.7. Otros7.1 Las condiciones de temperatura y humedad en el gabinete de prueba deben ser uniformes y similares a las cercanas al sensor de temperatura y humedad.7.2 Las condiciones de temperatura y humedad en el gabinete de prueba no deben cambiarse durante el encendido o la prueba funcional de la muestra.7.3 Las precauciones que se deben tomar al eliminar la humedad de la superficie de la muestra se detallarán en las especificaciones pertinentes. IEC 68-2-14 Método de prueba N: variación de temperatura1. Propósito de la pruebaEl propósito de este método de prueba es determinar el efecto de la muestra en el ambiente del cambio de temperatura o del cambio continuo de temperatura.Paso 2: AlcanceEste método de prueba se puede dividir en:Método de prueba Na: cambio rápido de temperatura dentro de un tiempo específicoMétodo de prueba Nb: cambio de temperatura con una variabilidad de temperatura especificadaMétodo de prueba Nc: Cambio rápido de temperatura mediante método de doble inmersión en líquido.Los dos primeros artículos se aplican a componentes, equipos u otros productos, y el tercer artículo se aplica a sellos de vidrio-metal y productos similares.Paso 3 LímiteEste método de prueba no valida los efectos ambientales de alta o baja temperatura, y si dichas condiciones deben validarse, "IEC68-2-1 Método de prueba A:" frío "o "IEC 60068-2-2 Método de prueba B: calor seco" debe usarse.4. Procedimiento de prueba4.1 Método de prueba Na:Cambio rápido de temperatura en un tiempo específico.4.1.1 Las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes antes de realizar el ensayo.4.1.2 El tipo de muestra deberá estar desembalado, sin energía y listo para su uso u otras condiciones especificadas en las especificaciones pertinentes. La condición inicial de la muestra fue temperatura ambiente en el laboratorio.4.1.3 Ajuste la temperatura de los dos gabinetes de temperatura respectivamente a las condiciones de temperatura alta y baja especificadas.4.1.4 Coloque la muestra en el gabinete de baja temperatura y manténgala caliente de acuerdo con el tiempo de residencia especificado.4.1.5 Mueva la muestra al gabinete de alta temperatura y manténgala caliente de acuerdo con el tiempo de residencia especificado.4.1.6 El tiempo de transferencia de alta y baja temperatura estará sujeto a las condiciones de prueba.4.1.7 Repita el procedimiento de los Pasos 4.1.4 y 4.1.5 cuatro veces4.1.8 Después de la prueba, la muestra debe colocarse en condiciones atmosféricas estándar y mantenerse durante un tiempo determinado para que alcance la estabilidad de la temperatura. El tiempo de respuesta se referirá a la normativa pertinente.4.1.9 Después del ensayo, las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes.4.2 Método de prueba Nota:Cambio de temperatura con una variabilidad de temperatura específica.4.2.1 Las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes antes del ensayo.4.2.2 Coloque la pieza de prueba en el gabinete de temperatura. La forma de la pieza de prueba debe estar desembalada, desconectada y lista para su uso u otras condiciones especificadas en las especificaciones pertinentes. La condición inicial de la muestra fue temperatura ambiente en el laboratorio.La muestra se puede hacer operativa si así lo exige la especificación pertinente.4.2.3 La temperatura del gabinete se reducirá a la condición de baja temperatura prescrita y el aislamiento se realizará de acuerdo con el tiempo de residencia prescrito.4.2.4 La temperatura del gabinete se elevará a la condición de alta temperatura especificada y la preservación del calor se llevará a cabo de acuerdo con el tiempo de residencia especificado.4.2.5 La variabilidad de la temperatura de alta y baja temperatura estará sujeta a las condiciones de prueba.4.2.6 Repita el procedimiento en los Pasos 4.2.3 y 4.2.4:Durante la prueba se realizarán pruebas eléctricas y mecánicas.Registre el tiempo utilizado para las pruebas eléctricas y mecánicas.Después de la prueba, la muestra debe colocarse en condiciones atmosféricas estándar y mantenerse durante un tiempo determinado para que la muestra alcance el tiempo de recuperación de la estabilidad de la temperatura referido a las especificaciones pertinentes.Después del ensayo, las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes.5. Condiciones de pruebaLas condiciones de prueba se pueden seleccionar mediante las siguientes condiciones de temperatura y tiempo de prueba apropiados o de acuerdo con las especificaciones relevantes,5.1 Método de prueba Na:Cambio rápido de temperatura en un tiempo específico.Alta temperatura: 1000800630500400315250200175155125100,85,70,55,4030°CBaja temperatura :-65,-55,-40,-25.-10.-5 °CHumedad: El contenido de vapor por metro cúbico de aire debe ser inferior a 20 gramos (equivalente al 50% de humedad relativa a 35°C).Tiempo de residencia: El tiempo de ajuste de temperatura del gabinete de temperatura puede ser de 3 horas, 2 horas, 1 hora, 30 minutos o 10 minutos, si no hay previsión se fija en 3 horas. Después de colocar la pieza de prueba en el gabinete de temperatura, el tiempo de ajuste de temperatura no puede exceder una décima parte del tiempo de residencia. Tiempo de transferencia: manual de 2 a 3 minutos, automático de menos de 30 segundos, muestra pequeña de menos de 10 segundos.Número de ciclos: 5 ciclos.Tolerancia de prueba: la tolerancia de temperatura por debajo de 200 ℃ es +2 ℃La tolerancia de temperatura entre 250 y 1000C es +2% de la temperatura de prueba. Si el tamaño del gabinete de temperatura no puede cumplir con los requisitos de tolerancia anteriores, la tolerancia se puede relajar: la tolerancia de la temperatura por debajo de 100 °C es ±3 °C y la tolerancia de la temperatura entre 100 y 200 °C es ±5 ° C (la relajación de la tolerancia debe indicarse en el informe).5.2 Método de prueba Nota:Cambio de temperatura con una variabilidad de temperatura específica.Alta temperatura: 1000800630500400315250200175155125100,85,70 55403 0'CBaja temperatura:-65,-55,-40,-25,-10,-5,5 ℃Humedad: El vapor por metro cúbico de aire debe ser inferior a 20 gramos (equivalente a 50 % de humedad relativa a 35 °C) Tiempo de residencia: incluyendo el tiempo de subida y enfriamiento puede ser de 3 horas, 2 horas, 1 hora, 30 minutos o 10 minutos , si no hay provisión, se fija en 3 horas.Variabilidad de temperatura: la fluctuación de temperatura promedio del gabinete de temperatura en 5 minutos es 1+0,2 °C/min, 3+0,6 °C/min o 5+1 °C/min.Número de ciclos: 2 ciclos.Tolerancia de prueba: La tolerancia de temperatura por debajo de 200 ℃ es +2 ℃.La tolerancia de temperatura entre 250 y 1000 ℃C es +2% de la temperatura de prueba. Si el tamaño del gabinete de temperatura no puede cumplir con los requisitos de tolerancia anteriores, se puede relajar la tolerancia. La tolerancia de la temperatura por debajo de 100 °C es de +3 °C. La temperatura entre 100 °C y 200 °C es de +5 °C. (La relajación de la tolerancia debe indicarse en el informe).6. Configuración de prueba6.1 Método de prueba Na:Cambio rápido de temperatura en un tiempo específico.La diferencia entre la temperatura de la pared interior de los gabinetes de alta y baja temperatura y las especificaciones de la prueba de temperatura no deberá exceder el 3% y el 8% (mostrado en °K) respectivamente para evitar problemas de radiación térmica.La muestra termogénica debe colocarse en el centro del gabinete de prueba en la medida de lo posible, y la distancia entre la muestra y la pared del gabinete, la muestra y la muestra debe ser superior a 10 cm, y la relación del volumen de la temperatura el gabinete y la muestra deben ser mayores que 5:1.6.2 Método de prueba Nota:Cambio de temperatura con una variabilidad de temperatura específica.Las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes antes de realizar el ensayo.La muestra deberá estar desembalada, sin energía y lista para su uso u otras condiciones especificadas en las especificaciones pertinentes. La condición inicial de la muestra fue temperatura ambiente en el laboratorio.Ajuste la temperatura de los dos gabinetes de temperatura respectivamente a las condiciones de temperatura alta y baja especificadas.La muestra se coloca en un gabinete de baja temperatura y se mantiene caliente según el tiempo de residencia especificado.La muestra se coloca en un gabinete de alta temperatura y se aísla según el tiempo de residencia especificado.El tiempo de transferencia de temperatura alta y baja se realizará de acuerdo con las condiciones de prueba.Repita el procedimiento de los pasos d y e cuatro veces.Después de la prueba, la muestra debe colocarse en condiciones atmosféricas estándar y mantenerse durante un tiempo determinado para que la muestra alcance el tiempo de recuperación de la estabilidad de la temperatura referido a las especificaciones pertinentes.Después del ensayo, las muestras se inspeccionarán visual, eléctrica y mecánicamente de acuerdo con las especificaciones pertinentes.6.3 Método de prueba NC:Cambio rápido de temperatura del método de remojo de doble líquidoEl líquido utilizado en la prueba será compatible con la muestra y no dañará la muestra.7. Otros7.1 Método de prueba Na:Cambio rápido de temperatura en un tiempo específico.Cuando la muestra se coloca en el gabinete de temperatura, la temperatura y el caudal de aire en el gabinete deben alcanzar la especificación de temperatura y la tolerancia especificadas dentro de una décima parte del tiempo de retención.El aire en el gabinete debe mantenerse en círculo y el caudal de aire cerca de la muestra no debe ser inferior a 2 metros por segundo (2 m/s).Si la muestra se transfiere desde el gabinete de alta o baja temperatura, el tiempo de retención no se puede completar por algún motivo, permanecerá en el estado de retención anterior (preferiblemente a baja temperatura).7.2 Método de prueba Nota:El aire en el gabinete debe mantenerse en un círculo con una variabilidad de temperatura específica y el caudal de aire cerca de la muestra no debe ser inferior a 2 metros por segundo (2 m/s).7.3 Método de prueba NC:Cambio rápido de temperatura del método de remojo de doble líquidoCuando la muestra se sumerge en el líquido, se puede transferir rápidamente entre los dos recipientes y el líquido no se puede agitar.
¿Qué son los dispositivos a prueba de explosiones de alta y baja temperatura?Debido a la particularidad del producto de prueba, durante el proceso de prueba, el producto de prueba puede producir una gran cantidad de gas. en el estado de alta temperatura o alta presión, que puede incendiarse y explotar. Para garantizar la seguridad de la producción, se pueden utilizar dispositivos de protección de seguridad preventiva como equipo opcional. Por lo tanto, el cámara de prueba de alta y baja temperatura Es necesario agregar dispositivos especiales: dispositivos a prueba de explosiones al probar estos productos especiales. Hoy hablemos de cuáles son los dispositivos a prueba de explosiones de alta y baja temperatura.1. Puerto de alivio de presiónCuando el aire generado en la cámara de prueba aumenta y la presión del gas en la cámara alcanza un umbral, el puerto de alivio de presión se abre automáticamente y libera la presión hacia afuera. Este diseño garantiza que cuando el sistema tenga una sobrepresión, la presión pueda liberarse, evitando así que el sistema colapse o explote. La ubicación y la cantidad de puertos de alivio de presión se determinan de acuerdo con los requisitos de aplicación y diseño del sistema de extinción de incendios específicos.2. Detector de humoEl detector de humo realiza principalmente la prevención de incendios monitoreando la concentración de humo. El sensor de humo iónico se utiliza dentro del detector de humo. El sensor de humo iónico es un tipo de sensor con tecnología avanzada y funcionamiento estable y confiable. Cuando la concentración de partículas de humo en la cámara es mayor que el umbral, detectará y emitirá una alarma para recordarle a la producción que detenga la operación y logre el efecto de prevenir incendios.3. Detector de gasesUn detector de gas es un instrumento que detecta la concentración de un gas. El instrumento es adecuado para lugares peligrosos donde existen gases combustibles o tóxicos y puede detectar continuamente el contenido del gas medido en el aire dentro del límite explosivo inferior durante un tiempo prolongado. El gas se difunde hacia el electrodo de trabajo del sensor a través de la parte posterior de la película porosa, donde el gas se oxida o reduce. Esta reacción electroquímica provoca un cambio en la corriente que fluye a través del circuito externo y la concentración de gas se puede medir midiendo el tamaño de la corriente.4. Sistema de escape de humosLa entrada de aire del ventilador presurizado está conectada directamente con el aire exterior. Para evitar que el aire exterior se contamine con humo, la entrada de aire del ventilador de suministro no debe ubicarse al mismo nivel que la salida de aire de la máquina de extracción. Se debe instalar una válvula de aire unidireccional en la tubería de entrada o salida de aire del ventilador. El sistema de extracción de humos mecánico adopta un ventilador de extracción de humos para el aire de extracción mecánico. Según información relevante, un sistema mecánico de extracción de humos bien diseñado puede descargar el 80% del calor del incendio, de modo que la temperatura del lugar del incendio se reduce considerablemente y tiene un papel importante en la seguridad de la evacuación del personal y del incendio. lucha.5. Cerradura electromagnética y hebilla mecánica de puerta.La cerradura electromagnética utiliza el principio electromagnético para lograr la fijación del cuerpo de la cerradura, sin la necesidad de utilizar una lengüeta de bloqueo mecánica, por lo que la cerradura electromagnética no existe la posibilidad de daño de la lengüeta de la cerradura mecánica o destrucción forzada. La cerradura electromagnética tiene una alta resistencia al impacto, cuando la fuerza de impacto externa actúa sobre el cuerpo de la cerradura, el cuerpo de la cerradura no se destruirá fácilmente y habrá ciertas medidas de protección cuando ocurra la explosión.6. Dispositivo automático de extinción de incendios.El dispositivo automático de extinción de incendios se compone principalmente de cuatro partes: detector (detector de energía térmica, detector de llama, detector de humo), extintor de incendios (extintor de dióxido de carbono), alarma de control de temperatura digital y módulo de comunicación. A través del módulo de comunicación digital en el dispositivo, los cambios de temperatura en tiempo real, el estado de la alarma y la información del extintor de incendios en el área del incendio se pueden monitorear y controlar de forma remota, lo que no solo puede monitorear de forma remota los diversos estados del dispositivo automático de extinción de incendios, sino también También domina los cambios en tiempo real en el área del incendio, lo que puede minimizar la pérdida de vidas y propiedades cuando ocurre el incendio.7. Indicador y luz de advertenciaComunique el estado del equipo o el estado de la transmisión mediante señales visuales y acústicas a los operadores de máquinas, técnicos, gerentes de producción y personal de la planta.
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